掃描電子顯微鏡(SEM)是介於透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的壹種顯微觀察方法，可以直接利用樣品表面材料的材料特性進行顯微成像。
掃描電鏡的優點是:①放大倍數高，在20-20萬倍之間連續可調；②具有大景深、大視野和三維圖像，可以直接觀察樣品各種不平整表面的精細結構；③樣品制備簡單。目前，掃描電鏡配有X射線能譜儀，可以同時觀察微觀結構和分析微區成分，是壹種非常有用的科研儀器。
如果有需要，可以關註通材料分析研究中心。各個部門各司其職，儀器技術部負責檢測前的樣品制備，旨在研究樣品制備方法，為用戶提供更高效準確的樣品制備方法。應用技術部負責日常測試工作，研究測試方案和結果，優化測量參數，提供更高質量的測量結果。軟件技術部負責積累大量測試數據，編制軟件，為微觀測試結果的數字化創造新思路。產品部負責聘請各行業應用技術人才，監督測量結果的準確性。歡迎來電或留言咨詢。