掃描電子顯微鏡(SEM)是介於透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的壹種顯微觀察方法,可以直接利用樣品表面材料的材料特性進行顯微成像。
掃描電鏡的優點是:①放大倍數高,在20-20萬倍之間連續可調;②具有大景深、大視野和三維圖像,可以直接觀察樣品各種不平整表面的精細結構;③樣品制備簡單。目前,掃描電鏡配有X射線能譜儀,可以同時觀察微觀結構和分析微區成分,是壹種非常有用的科研儀器。
如果有需要,可以關註通材料分析研究中心。各個部門各司其職,儀器技術部負責檢測前的樣品制備,旨在研究樣品制備方法,為用戶提供更高效準確的樣品制備方法。應用技術部負責日常測試工作,研究測試方案和結果,優化測量參數,提供更高質量的測量結果。軟件技術部負責積累大量測試數據,編制軟件,為微觀測試結果的數字化創造新思路。產品部負責聘請各行業應用技術人才,監督測量結果的準確性。歡迎來電或留言咨詢。