壹、研究課題分析
集成電路(Integrated circuit)是壹種半導體制造工藝，在壹個很小的單晶矽片上制作許多晶體管、電阻、電容等元件，按照多層布線或隧道布線的方法將這些元件組合成壹個完整的電子電路。在電路中用字母“IC”表示(也用符號“N”等表示。).
自從1958世界上第壹個IC問世以來，尤其是最近20年，幾乎每2-3年就有壹代產品問世。到現在，產品已經從最初的小規模集成電路發展到今天的超大規模集成電路。集成電路設計、集成電路制造、集成電路封裝和集成電路測試已經成為微電子工業中四個既獨立又相互關聯的行業。微電子已經成為當今世界各種尖端技術和新興產業發展的先導和基礎。隨著微電子技術的先進發展，我們可以更有效地促進其他尖端技術的進步。隨著集成電路集成度和復雜度的不斷提高，汙染控制、環境保護和靜電防護技術變得越來越盲目或制約著微電子技術的發展。同時，隨著我國國民經濟的持續穩定增長和生產技術的不斷創新發展，生產技術對生產環境的要求也越來越高。大規模和超大規模集成電路生產前後，每壹道工序都對生產環境提出了更高的要求，不僅要保持壹定的溫度、濕度和潔凈度，還要對靜電防護給予足夠的重視。
電導率介於導體和絕緣體之間的物質叫做半導體。半導體材料是壹種具有半導體性質的電子材料，可用於制作半導體器件和集成電學。其電導率範圍為10 (U-3)至10 (U-9)歐姆/厘米。半導體材料的電學性質對光、熱、電、磁等外界因素的變化非常敏感，可以通過在半導體材料中摻雜少量雜質來控制這類材料的電導率。多功能半導體器件就是利用半導體材料的這些特性制造的。
隨著科學技術的飛速發展，集成電路和半導體的發展也非常迅速，這不僅對半導體和集成電路本身提出了更高的要求，對其生產環境也提出了更高的要求。而且由於科技的發展，人們以前的知識也會發生變化。因此，需要全面掌握這方面的知識及其在世界上的發展趨勢。本課題主要是了解壹些關於集成電路環境和半導體器件的知識和研究。
第二，制定檢索策略
1，選擇檢索方式
本學科的檢索方法以計算機檢索為主，手工檢索與計算機檢索相結合。
2.選擇檢索工具。
要想找到“集成電路環境與半導體器件”的文獻，必須選擇合適的檢索工具。本課題根據課題的要求和檢索工具收集文獻來源的情況，選擇綜合檢索工具和數據庫以及集成電路專業檢索工具和數據庫。特別選擇了以下檢索工具和數據庫:
(1)全國報紙索引
(2)國家新書目
(3)中國國家的數量
(4)中國專利索引。
(5)工程指標
(6)中國知網期刊全文數據庫
(7)萬方數據資源系統
(8)超星數字圖書館
(9)中國科技期刊全文數據庫
(10)中國學術會議論文數據庫
(11)中國學位論文數據庫
(12)中國專利數據庫
(13)中華人民共和國國家知識產權局網站
(14)工程村2數據庫
(15)荷蘭Elsevier全文數據庫
(16)歐洲專利數據庫
3.選擇檢索方法
為了獲得近年來國內外的研究情況，本課題選擇了前向搜索和後向搜索相結合的方法。
4、選擇檢索方式
這個話題的搜索可以通過分類和主題進行搜索。
(1)分類方法
從科目的分析可以知道，本科目的科目分類屬於工業技術。根據《中國圖書館分類法》的類目設置，可以選擇以下分類號作為檢索條目:
TN4集成電路
TN3半導體技術
TN36半導體光電器件
TN37半導體熱電器件、熱敏電阻
(2)主題方法
根據對主題的分析，可以選擇以下關鍵詞作為檢索入口:
中文關鍵詞:集成電路；環境；半導體器件；半導體集成電路(SCIC)
英文關鍵詞:集成電路；；條件；半導體器件；
5.構造壹個檢索類型。
在計算機檢索系統中，每個檢索詞的操作方式是由邏輯搭配關系決定的。可以選擇以下邏輯操作來制定用於檢索該主題的檢索策略:
(集成電路和環境)或半導體器件
(集成電路和條件)或半導體器件
第三，實驗檢索
利用CNKI全文數據庫進行實驗性檢索。
打開CNKI全文數據庫，選擇高級檢索，選擇所有數據庫範圍，選擇1990到2006為數據庫時間範圍，按照采集時間順序排序。選擇搜索字段以在文章的標題/關鍵詞/摘要中進行搜索。在檢索對話框中分別輸入“集成電路”、“環境”和“半導體器件”。
搜索詞之間的邏輯運算關系是“與”第壹，“與”或“第二”。點擊“搜索”按鈕獲取搜索結果。閱讀了hit文獻的詳細信息，符合檢索主題的要求。
第四，官方搜索
根據選擇的檢索方式，分別在選擇的檢索工具和數據庫中進行檢索。
本課題的檢索可以根據文獻類型檢索國內外相關文獻。
1.國內期刊論文的檢索
如果要查找國內相關期刊論文，可以選擇全國報刊索引、CNKI期刊全文數據庫、中國科技期刊全文數據庫、萬方數據資源系統數字期刊等檢索工具和數據庫。
(1)檢索工具:以2000年全國報紙索引(自然科技版)為例。
從2004年第7期《全國報紙索引》中，按照分類號“TN4:微電子學，集成電路”找到1篇符合要求的文章:
000712565微電子環境中的靜電防護王澤恒(長春理工大學)現代信息-2000，(2)。-59-60
然後按照分類號“TN3:半導體技術”逐壹搜索，找到三篇符合要求的文章:
000811849氧化鋅壓敏電阻汪建文耐濕性影響因素研究(陜西xi安無線電二廠)；鄧；楊明等.傳感器技術-2000，19 (2).-13-16
000811877高溫超導多芯片模塊杜(電子科技大學)；楊邦超電子元器件與材料-2000，19 (2)。-22-23,33
CMOS/SOP抗核加固電路輻射恢復特性王；姚達；蘇秀娣等吉林大學自然科學學報-1999，(3) -72-74
檢索工具的檢索結果是標題或摘要。為了獲取命中文檔的全文，需要根據檢索結果中提供的文檔來源獲取文檔的全文。
(2)計算機檢索以CNKI期刊全文數據庫為例。
進入CNKI期刊全文數據庫，選擇高級搜索，在兩個搜索對話框中分別輸入半導體、集成電路、環境，在搜索字段下拉菜單中選擇主題。單擊搜索按鈕獲取搜索結果。閱讀檢索結果後。，分析，符合題目要求。縮寫結果的全文可以打印和下載。現列出1命中文檔的摘要描述格式。
先進半導體矽:優化納米集成電路性能的重要基礎
基於siics輻射效應的劑量計。
作者張慶鄉；侯明東；甄紅樓；
英國作家張慶鄉；HOU明洞；樓(近代物理研究所；中國科學院；甘肅省蘭州市；中國)；
作者單位:中國科學院近代物理研究所；甘肅蘭州；
核電子學與探測技術，核電子學&；檢測技術，編輯部郵箱，2002年04期
期刊榮譽:中文核心期刊主要內容概述:ASPT來源期刊CJFD。
半導體器件；輻射效應；總劑量效應；單事件效應；空間環境探測；
半導體探測器；輻射效應；總劑量效應；單事件效應；空間輻射環境；
空間輻射環境可引起半導體集成電路的總劑量效應、單粒子效應等輻射效應，可用於監測空間輻射環境。在壹定條件下，基於該原理的探測器具有傳統面壘探測器和PIN探測器所不具備的優點。特別適用於航天器艙內帶電離子檢測和航天醫學中的個人輻射劑量檢測。介紹了三種基於半導體器件輻射效應的探測器。
空間集成電路中的輻射效應，如總劑量效應、單粒子效應等，可以用來測量空間輻射環境。與傳統的半導體探測器(勢壘探測器和P-I-N二極管)相比，基於這些效應的探測器作為航天器中的劑量深度監測器和人員的“皮膚”劑量計具有壹些優勢。本文介紹了其中三種探測器及其在太空中的應用。
國家自然科學基金(19775 0 5 8，10 0 75 0 6 4)；；中國科學院“九五”重大項目(KJ95 2-SI-4 2 3)
DOI CNKI:ISSN:0258-0934 . 0 . 2002-04-025
2.本課題相關標準和專利的檢索。
如果想查找本課題的相關標準和專利，可以選擇中國專利索引、標準檢索工具等圖書檢索工具，以及萬方數據資源系統鏡像站、中華人民共和國網站、國家知識產權局、中國專利數據庫等以中國專利索引(手冊)、萬方數據資源系統和Springer等相關數據庫(計算機)為例，列舉了壹些hit文獻及其簡要格式。
[1].手動搜索結果:
國際專利分類號授權公告號專利號
專利權人的實用新型/發明名稱
h 01L 23/48 cn 2201727y ZL 94241608.2
東南大學陶瓷封裝半導體防浪湧器件
h 01L 29/74 cn 2196820y ZL 94204295.6
徐正山可以關掉SCR。
h 01L 23/40 cn 1029056 c ZL 93108095.9
日立公司電子設備冷卻裝置
h 01L 49/00 cn 1027607 c ZL 91108927.6
雲南大學高靈敏度半導體氣體傳感器
h 01L 29/784 cn 1098227 a ZL 94104088.7
半導體能源研究所有限公司的半導體器件及其制造方法
標準名稱標準編號
電力半導體散熱器GB 8446.1-87
半導體直接DC轉換器GB 7677-87
[2].計算機搜索結果:
專利名稱:半芯片半導體壓電器件結構和電聲電荷轉移器件
專利持有者:飛思卡爾半導體公司。
申請號: 02814687.5
專利名稱:半導體發光器件
專利持有者:夏普公司。
申請號:200410082163.5。
專利名稱:半導體集成電路器件
專利持有人:爾必達存儲器有限公司；日立ULSI系統
申請號: 200410100687.2
標準名稱:半導體器件命名系統
標準編號:ANSI/EIA-370-13-1992
標準名稱:同名半導體器件的端子功能的編號和多單元半導體器件的單元名稱。
標準編號:ANSI/EIA-321-C-1987
標準名稱:半導體器件的機械標準化，尺寸
標準編號:IEC 60191-2-1992
3、國內學術會議、學位論文、科技成果等信息檢索。
如果想查找國內相關學術會議、學位論文、科技成果等信息，可以選擇《中國學術會議文獻通報》、《中國學術論文通報》等圖書檢索工具，以及萬方數據資源系統的《中國學術會議論文數據庫》、《中國學位論文數據庫》、《中國科技成果數據庫》、《中國專利數據庫》。以萬方數據資源系統中國學術會議論文數據庫的檢索結果為例，列出了1命中文獻的描述格式。
半導體器件分布式仿真系統的設計
作者張斌；
導師閆永紅；
學位授予單位湖南大學；
微電子學和固態電子學
2003年學位
碩士論文水平
網絡出版投稿人湖南大學
網絡出版投稿時間2003-07-21
半導體器件模擬；分布式；並行模擬；數值分析；中間件；
半導體器件模擬；分銷；並行計算；數值分析；中間器皿；
概述了半導體器件仿真軟件的發展現狀，分析了半導體器件的模型，研究了半導體器件仿真的基本方法和典型流程，分析了半導體器件開發的需求和幾種器件仿真計算方法的比較，以及分布式器件並行仿真系統的必要性、可行性和現實意義。詳細描述了半導體器件的數值模擬模型和模型的基本方程，討論了器件數值分析的獨特邊界條件和算法分析，詳細說明了器件模擬軟件要解決的問題。探討了裝置並行仿真系統的計算機技術和功能模塊劃分，詳細實現了客戶端程序設計、中間件設計和服務器端程序設計。利用它完成了晶體管的摻雜濃度分布、電子和空穴濃度模擬，並對輸入參數進行了討論，對計算結果的輸出進行了分析。在此基礎上，利用MATLAB5.3數值計算工具完成了晶體管的壹維穩態分析，驗證了系統仿真結果的正確性。簡述了半導體器件仿真軟件在新器件開發中的應用，簡述了性能仿真擴展和工藝仿真集成的優勢。最後，系統總結了分布式並行仿真系統所完成的主要工作和創新點。
概述了半導體器件仿真軟件開發的實用性，發展了半導體器件模型、半導體器件仿真的基本方法和代表性程序，分析了半導體器件日益增長的需求、幾種半導體器件仿真系統的比較以及器件分布並行仿真的必要性、可行性和意義。半導體器件的模型...
CDMD:10532.2.2003.0870
4.涉外信息檢索
如果想查找與本課題相關的外文資料，可以選擇Engineering Village 2數據庫、荷蘭Elsevier全文數據庫、歐洲專利數據庫等。
根據上面討論的檢索策略和方法，我們可以在選定的數據庫中用“半導體器件”進行搜索，以獲得所需的相關信息。
現列出工程村2數據庫中的2篇命中文獻。
壹種測量pn結半導體器件熱阻的方法
雅努什·亞列布斯基和克日什托夫·戈雷基
測量、加工、驗收手冊；2006年11月0日在線提供21
提取半導體器件瞬態熱參數的直接分析法
F.n .馬薩納
m:《微電子學與可靠性》,正在印刷中，校正過的校樣，2006年11月4日在線65438
動詞 （verb的縮寫）獲取原文並分析主題的檢索結果。
通過以上圖書檢索工具和數據庫檢索，獲得了大量相關信息。對於圖書檢索工具和書目、文摘數據庫的檢索結果，應根據檢索結果提供的文獻來源獲取原文。對於全文數據庫的檢索結果，可以直接獲取原文。
根據課題的內容要求，通過上述過程的檢索，本研究課題的國內外文獻收集比較完整，能夠滿足本課題的研究需要。